NS/BAS CLC/R 210-003:2008 (1. izd.)(pr)(en)(28 str.)
Uputstva za upotrebu obloga sa prigušenjem  eha koje ne ispunjavaju zahtjeve za normalizirano prigušenje na mjestu predispitivanja usklađenosti proizvoda sa standardima
Guidelines on how to use anechoic enclosures that do not fulfil the requirements regarding normalized site attenuation for pre-compliance tests of products
CLC/R 210-003:1995 IDT
ICS 33.100.10

NS/BAS CLC/R 210-004:2008 (1. izd.)(pr)(en)(6 str.)
Preporuke za filtere koji se koriste za oklopljena kućišta
Recommendations on filters for shielded enclosures
CLC/R 210-004:1999 IDT
ICS 17.220.01; 31.160; 31.240

NS/BAS CLC/R 210-005:2008 (1. izd.)(pr)(en)(14 str.)
Preporuke za oklopljena kućišta
Recommendations for shielded enclosures
CLC/R 210-005:1999 IDT
ICS 17.220.01; 31.240

NS/BAS CLC/R 210-008:2008 (1. izd.)(pr)(en)(24 str.)
Uputstvo za EMC usklađenost uređaja namjenjenih za vojne i druge namjene
Guide to EMC conformity of apparatus designed for military and other purposes
CLC/R 210-008:2002 IDT
ICS 33.100.01

NS/BAS CLC/R 210-009:2008 (1. izd.)(pr)(en)(5 str.)
Rad, oraganizacija i referentni termini Grupe za pregled standarda CLC/TC 210 "EMC"
Operation, composition and terms of reference of the Standards Overview Group of CLC/TC 210 "EMC"
CLC/R 210-009:2001 IDT
ICS 33.100.01

NS/BAS CLC/R 210-010:2008 (1. izd.)(pr)(en)(40 str.)
Elektromagnetna kompatibilnost -Mjerenja emisije smetnji u potpuno gluhim komorama
Electromagnetic compatibility - Emission measurements in fully anechoic chambers
CLC/R 210-010:2002 IDT
ICS 33.100.10

NS/BAS CLC/TS 50217:2008 (1. izd.)(pr)(en)(35 str.)
Uputstvo za mjerenja na licu mjesta ("in site") - Mjerenja emisije smetnji na licu mjesta ("in site")
Guide for in situ measurements - In situ measurements of disturbance emission
CLC/TS 50217:2005 IDT
ICS 33.100.10

NS/BAS EN 61000-4-1:2008 (2. izd.)(pr)(en)(31 str.)
Elektromagnetna kompatibilnost (EMC) - Dio 4-1: Ispitne i mjerne tehnike- Pregled  serija IEC 61000-4 (IEC 61000-4-1:2006)
Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-1: Testing and measurement techniques - Overview of  IEC 61000-4 series ( IEC 61000-4-1:2006)
EN 61000-4-1:2007 IDT;  IEC 61000-4-1:2006 IDT
ICS 33.100.01

NS/BAS EN 61000-4-6:2008 (2. izd.)(pr)(en)(3 + 115 str.)
Elektromagnetna kompatibilnost (EMC) - Dio 4-6: Ispitne i mjerne tehnike: Imunost na nastale smetnje indukovane radio frekventnim poljima (IEC 61000-4-6:2003 + A1:2004 + A2:2006)
Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-6 : Testing and measurement techniques - Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields (IEC 61000-4-6:2003 + A1:2004 + A2:2006)
EN 61000-4-6:2007 IDT;  IEC 61000-4-6:2003 + A1:2004 + A2:2006 IDT
ICS 33.100.20

NS/BAS EN 61000-4-8/A1:2008 (1. izd.)(pr)(en)(2 + 64 str.)
Elektromagnetna kompatibilnost (EMC)-Dio 4-8: Ispitne i mjerne tehnike; Test imunosti na naizmjenično magnetno polje; Amandman A1 (IEC 61000-4-8:1993/A1:2000)
Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-8: Testing and measurement techniques; Power frequency magnetic field immunity test; Amendment A1 (IEC 61000-4-8:1993/A1:2000)
EN 61000-4-8/A1:2001 IDT; IEC  61000-4-8:1993/A1:2000 IDT 
ICS 33.100.20

NS/BAS EN 61000-4-20/A1:2008 (1. izd.)(pr)(en)(4 + 145str.)
Elektromagnetna kompatibilnost (EMC) - Dio 4-20: Ispitne i mjerne tehnike - Ispitivanje emisije i imunosti u  transverzalnim elektromagnetnim (TEM) valovodima (talasovodima) (IEC 61000-4-20:2003/A1:2006)
Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-20: Testing and measurement techniques - Emission and immunity testing in transverse electromagnetic (TEM) waveguides (IEC 61000-4-20:2003/A1:2006)
EN 61000-4-20/A1:2007 IDT; IEC  61000-4-20:2003/A1:2006 IDT 
ICS 33.100.01

NS/BAS EN 62132-5:2008 (1. izd.)(pr)(en)(2 + 54str.)
IEC 62132-5, Izd. 1: Integralna kola - Mjerenje elektromagnetne imunosti, 150 kHz do 1 GHz - Dio 5: Ispitna postavka po metodi Faradejevog kaveza (IEC 62132-5:2005)
IEC 62132-5, Ed. 1: Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz - Part 5: Workbench Faraday cage method (IEC 62132-5:2005)
EN 62132-5:2006 IDT;  IEC 62132-5:2005 IDT
ICS 31.200; 33.100.20

NS/BAS CISPR 16-1-1:2008 (2. izd.)(pr)(en)(147 str.)
Specifikacija uređaja i metoda za mjerenje radiosmetnji i imunosti - Dio 1-1: Uređaji za mjerenje radio smetnji i imunosti - Uređaji za mjerenje / Napomena: Kombinacija CISPR 16-1-1 (2006-03), AMD 1 (2006-09) i AMD 2 (2007-07)
Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods - Part 1-1: Radio disturbance and immunity measuring apparatus - Measuring apparatus / Note: Combines CISPR 16-1-1 (2006-03), AMD 1 (2006-09) and AMD 2 (2007-07)
CISPR 16-1-1:2007 Edition 2.2 IDT
ICS 33.100.01
Zamjenjuje BAS CISPR 16-1-1:2007 - Specifikacija mjernog uređaja i metoda za mjerenje radio smetnji i imunosti - Dio 1-1: Mjerni uređaj za mjerenje radiosmetnji i imunosti - Mjerni uređaj

NS/BAS CISPR 16-1-2: 2008 (2. izd.)(pr)(en)(153 str.)
Specifikacija uređaja i metoda za mjerenje radio smetnji i imunosti - Dio 1-2: Uređaji za mjerenje radio smetnji i imunosti - Pomoćna oprema - Kondukcione smetnje / Napomena: Kombinacija CISPR 16-1-2 (2003-11), AMD 1 (2004-04) i AMD 2 (2006-07)
Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods - Part 1-2: Radio disturbance and immunity measuring apparatus - Ancillary equipment - Conducted disturbances / Note: Combines CISPR 16-1-2 (2003-11), AMD 1 (2004-04) and AMD 2 (2006-07)
CISPR 16-1-2: 2006 Edition 1.2 IDT
ICS 33.100.10; 33.100.20
Zamjenjuje BAS CISPR 16-1-2:2007 - Specifikacija mjernog uređaja i metoda za mjerenje radio smetnji i imunosti - Dio 1-2: Mjerni uređaj za mjerenje radiosmetnji i imunosti - Pomoćna oprema - Kondukcione smetnje

NS/BAS CISPR 16-4-2:2008 (2. izd.)(pr)(en)(43 str.)
Specifikacija uređaja i metoda za mjerenje radio smetnji i imunosti - Dio 4-2: Mjerna nesigurnost u EMC mjerenjima, statističko modelovanje i ograničenja -Mjerna nesigurnost pri mjerenjima elektromagnetne kompatibilnosti
Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods - Part 4-2: Uncertainties, statistics and limit modelling; Uncertainty in EMC measurements
CISPR 16-4-2:2003 IDT
ICS 33.100.20